平晶是采用光学玻璃或石英为材料,利用光波干涉原理,使平晶的测量米娜与试件的被测量免之间所产生的干涉条纹来仪器校正测量被测量免的平面度、平行度等的实物量具。平晶分平面平晶、平行平晶和长平晶三种。
平面平晶用于检定量块的研合性和平面度以及仪器和量具的测量面、工作面的平面度。亦可用于检定高精度的平面零件,例如,平面光学零件、高级平台、平板、导轨、密封件等。平面平晶特别适用于计量单位、实验室作为标准平面和样板。
平行平晶用于检定千分尺、杠杆千分尺、杠杆卡规和千分尺卡规等量具测量面的平面度和两相对测量面的平行度。长平晶是以等倾干涉法检定研磨面平尺平面度的标准量具。