使用仪器校验检测前的调整
干涉显微镜调整的主要目的,是使目镜视场中呈现反映被测表面粗糙度的清晰干涉条纹,以便测量。
各种类型的仪器使用调整不尽相同,详细参看相应的使用说明书.外校计量下面以常用的双光束干涉显微镜为例,介绍调整步骤:
(1)调节光源,使目镜视场照明均匀。调整目镜视度,使视场中分划板刻线清晰
(2)将被测表面置于物镜的上方。仪器校验用遮光板挡住参考镜一路的光束,对被测件表面调焦'直至视场中出现清晰的加工纹路的显微图像。
(3)将遮光板从参考光路中移开,视场中应出现干涉条纹。若不出现干涉条纹,一般是由于参考镜光路未调好'造成两路光的光程不相等,应对参考光路的物镜调焦。
(4)校正检测调整干涉条纹的方向,使其与被测表面加工纹路垂直,并调整干涉条纹的宽度以5mm——lOmm为宜
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