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局部放电检测仪器测试中的干扰和抗干扰问题
仪器校验在局部放电测试中，往往由于外部干扰信号的影响，而使测试结果产误判断，或者使测试工作根本无法进行下去。
尤其对从事局部放电测试工作经验不多的人，更容易引起误判断。因此，在局部放电测试技术中，消除外部干扰成为一项很重要的技术内容，同时也是花钱较多的一项技术措施。
(一) 外来干扰
1．与电源电压无关的干扰
这种干扰与电源电压（加至被试品上的电压）无关，它不随电源电压的升高或降低而变化。它产生于：电气开关的开闭操作、电焊起弧、吊车开动、整流电机的电刷、闪光灯、无线电电磁波以及各种工业干扰等等。
这些干扰通过电源、测试回路和地线等途径侵入进来。
2. 电源电压有关的干扰
这类干扰一般随电源电压的增加而变大。它可由试区内各个部分产生。
例如：试验变压器、高压引线、试品端部、高压线路接触不良、高压试区的绝缘物体与地线（或接地金属物）接触、试区内金属物体接地不良、以及其它物体的感应放电等等。与电源电压有关的干扰的侵入途径，可以通过电源、高压导线、空间和地线侵入到测试回路内。
(二)消除外来干扰的方法
1. 消除与电源电压无关的干扰方法：应从电源、空间、接地方式几个方面采取措施。为了消除空间电磁波的干扰，应将试验室加以屏蔽。对于由电源侵入的干扰，一般在电源进口处加隔离变压器和滤波装置。消除由接地网来的干扰，应采取一点接地方式。
2. 消除与电源有关的干扰措施：可将高压导线加粗（用较粗的蛇皮管、薄铁皮圆筒或铝筒）；对被试品端部加防晕罩；试区内各地线和金属物应良好接地；试区内的绝缘物体严禁与金属接地体接触；在高压线下部地面上不应有螺钉、地线头等金属物体。
常用的抑制干扰方法
局部放电产生的检测信号十分微弱，仅为微伏量级，就数值大小而言，很容易被外界干扰信号所淹没，仪器校验因此必须考虑抑制干扰信号的影响，采取有效的抗干扰措施。
对上述这些干扰的抑制方法如下：
(1)来自电源的干扰可以在电源中用滤波器加以抑制。这种滤波器应能抑制处于检测仪的频宽的所有频率，但能让低频率试验电压通过。
(2)来自接地系统的干扰，可以通过单独的连接，把试验电路接到适当的接地点来消除。所有附近的接地金属均应接地良好，不能产生电位的浮动。
(3)来自外部的干扰源，如高压试验、附近的开关操作、无线电发射等引起的静电或磁感应及电磁辐射，均能被放电试验线路耦合引入，并误认为是放电脉冲。
如果这些干扰信号源不能被消除，就要对试验线路进行处理，仪器校验使其表面光洁度好，曲率半径大，并加以屏蔽。需要有一个设计良好的薄金属皮、金属板或铁丝钢的屏蔽。
有时样品的金属外壳要用作屏蔽。有条件的可修建屏蔽试验室。
(4)试验电压会引起的外部放电。假使试区内接地不良或悬浮的部分被试验电压充电，就能发生放电，这可通过波形判断与内部放电区别开。
超声波检测仪可用来对这种放电定位。试验时应保证所有试品及仪器接地可靠，设备接地点不能有生锈或漆膜，接地连接应用螺钉压紧。
干扰的抑制总是从干扰源、干扰途径、信号后处理三方面考虑。
找出干扰源直接消除或切断相应的干扰路径，是解决干扰有效根本的方法，但要求详细分析干扰源和干扰途径，且一般不允许改变原有的变压器运行方式，因此在这两方面所能采取的措施总是很有限。
对于经电流传感器耦合进入监测系统的各种干扰，采取各种信号处理技术加以抑制。
一般从以下几方面区分局放信号和干扰信号；工频相位、频谱、脉冲幅度和幅度分布、信号极性、重复率和物理位置等。
在抗干扰技术中有两种不同的思路：一种是基于窄带(频带一般为10kHz至数10kHz)信号的。
它通过合适频带的窄带电流传感器和带通滤波电路拾取信号，躲过各种连续的周期型干扰，提高了测量信号的信噪比。
这种方法只适合某一具体的变电站，使用上不方便。
此外，由于局部放电信号是一种宽频带脉冲，窄带测量会造成信号波形的失真，不利于后面的数字处理。另一种是基于宽频(频带一般为10至1000kHz)信号的处理方法。
检测信号中包含局放的大部分能量和大量的干扰，但信噪比较低。
对于这些干扰的处理步骤一般是：a.抑制连续周期型干扰；b.抑制周期型脉冲干扰；c.抑制随机型脉冲干扰。随着数字技术的发展及模式识别方法在局放中的应用，这种处理方法往往能取得较好的效果。在后级处理中，很多处理方法是一致的。可归纳为频域处理和时域处理方法。频域方法是利用周期型干扰在频域上离散的特点处理之；而时域处理方法是根据脉冲型干扰在时域上离散的特点处理。有硬件和软件两种实现方式。
由于局部放电脉冲信号是很微弱的信号，现场的电磁干扰都将对测量结果产生较大误差，因此，要做到准确测量很困难。为了提高测量精度，除了采取上述介绍的抗干扰措施外，在测量中还应可采取如下措施：
（1）计量检测中所使用的设备应尽量采用无晕设备，特别是试验变压器和耦合电容Ck。
（2）滤波器的性能要好，要做到电源与测量回路的高频隔离。
（3）试验时间应尽量选择在干扰较小的时段，如夜间等。
（4）测量回路的参数配合要适当， 耦合电容要尽量小于试品电容Cx，使得在局部放电时Cx与Ck间能很快地转换电荷。
（5）必须对测量设备进行校准。
