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计量校验分析法与经典发射光谱法相比。总的来说干扰较小，分析结果的精密度可与化是测定中有时必须了解干扰，并想办法消除这些干扰，以减小测量误差。扰普线干扰和背景吸收干扰两大类。主要来自于光源和原子化器，也与共存元在着光源发射的非吸收线（如铬空心阴极灯氢的357.7 nm和铬的357.9 nm吸收斤线与共存元素的吸收线相重叠（如Ge的分析线422. 66 nm与共存元素Ca的重叠）以及原子化器内的直流发射等是主要的谱线干扰。为了消除谱线干扰，可和灯电流、另选分析线以及采用对光源进行机械调制或脉冲供电等方法。
仪器检测种非待测原子的吸收，是一种非选择性吸收，主要包括分子吸收和光散射，干大。光散射是指吸收池内未挥发的固体颗粒，会对入射光产生散射而入单色器，偏离光路而不为检测器所检测，造成假吸收。高温石墨炉在原子化雾与固体颗粒，光散射比火焰原子化器严重得多。光散射一般可通过仪器调零收是一种带吸收，常见的分子吸收有三种类型：物的分子吸收这是由于原子化器的温度低或金属化合物难解离，使一些金属形式存在，不同分子具有不同的吸收带。当某一待测元素测定波长正好落在分/然产生干扰。
分子吸收 当波长小于250 nm时，H2 S04有较强的吸收，H3P04与H2 So4类内有强的吸收。HN03、HCI、HC104等无机酸即使在波长小于250 nm处，吸在原子吸收分析中，样品处理尽量采用HN03、HC1、HC104，而避免使用二的吸收火焰的成分主要有N2、CO.H2 .H2 0、C02 .OH.NO.cN.Cz等。这些波长处产生吸收，仪器维修对测定产生干扰。虽然火焰气体吸收及引入空白试液时引起收可通过仪器调零来校正，但是由于样品中附随物所引起的背景吸收却必须通
本文由X射线荧光光谱仪校准中心发表。
