精确的测量结果对于理解-仪器校准检测网

泄漏系统的校准很明显，对泄露系统的校准（例如，由15-项模型所描述的）要求有大量的标准件和/或校准测量。

[56]中介绍了一个15-项模型的迭代解决方法。它建议使用4个完全已知的二端口标准件：其中一个标准件是直通件，而其它3个标准件是匹配-匹配，开路-短路，短路-开路的组合。正如随后在[57]中所介绍的，仅采用了4个完全已知的二端口的标准件会导致一个不确定性的方程系统，从而最终降低了校准的精度。需要至少5个这样的标准件。 [57] - [60] 介绍了15-项模型的显式校准和一些自校准解决方案。

同样，[33]中的工作给出了参考通道系统的解决方案（即22-项模型）。最后，[58]中介绍了针对泄露系统采用通用的自校准匹配-未知-反射-网络（MURN）方法，其中的标准件有8个未知参数。多端口情况和混合法事实上，10-项和7-项系统描述均可用于多端口反射计VNA中。这便给了用户很大的自由来选择适合于他和她的系统应用的校准方法。因为7-项校准过程对一些标准件的不精确性不敏感，这便常常成为一个首选的方案（例如，[61]，[62]）。当校准7-项误差系统时，可用不同的方法来计算所选择的误差项。例如，人们可以将SOLR与LRM[63]或其它方法相结合进行混合校准[64]。当一些直通标准件很难表征时（例如，在圆晶片上)，就可以看出这种方法的好处了。

然而，混合法在校准动态范围上可能会有些限制，这是因为它们是基于7-项模型基础之上的[65]。 [66]和[67] 提出了另一种将不同校准方法的优点与通用的反射-反射-匹配-直通相结合的思想，高（GRRMT+）多端口解决方案。与混合校准法不同，GRRMT+仪器校验过程使用7-项模型为基础的自校准LRM+和SOLR过程来计算出部分已知标准件（即，反射和直通）的准确的性能参数。

一旦完全知道了所有校准标准件的参数，就可通过改进的GSOLT方法加上非理想但已知的标准件来计算误差项。因此，多端口10-项模型，多端口7-项模型和混合式方法的缺点便可一次性全部克服。未来的展望在过去的40年里，我们已经看到在微波测量仪器和校准及误差修正方法学上所取得的惊人的进步。这极大地影响了高频半导体器件的发展。精确的测量结果对于理解DUT的实际性能，验证其模型以及改进设计都是非常关键的。因此，S-参数测量法的进步加速了，比如说，高性能通信和国防系统的发展。