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SOLR法不要求知道直通标准件的所有信息 [50] 。事实上，任何一个能提供对称（正向/反向）传输系数（互易）的无二端口元件均可用于校准过程。 SOLR对于那些难以使用直通元件的测量装置是很有帮助的：例如，在同轴式应用中，当测量端口是相同性别时，或者当在圆晶片级别上采用的是矩形端口时。仪器校准 SOLR法的精度从根 本上取决于一端口标准件（开路，短路，负载），这些标准件要么是理想的，要么其特性是完全已知的。
QSOLT 与SOLT一样，QSOLT方法要求所有标准件都是已知的。然而， 它取消了在VNA第二个端口对一端口标准件进行测量的要求[51]，[52]。这个特性极大地减少了对标准 件进行再连接和再测量所花费的时间。然而，需要注意的是用QSOLT法所校准的VNA在它的第二个端口，即 在校准过程中未连接一端口标准件处，存在著明显的测 量误差[53]。 LRRM LRRM法是第一个明确地用于圆晶片级测量的方法。它是设计用来解决平面集总参数负载中诸如潜在的不对称 性，阻抗与频率的相关性[54]等方面的限制的。
然而，就像QSOLT一样，它只在VNA的一个端口对负载标准件进行测量。对于有些应用，这会导致在第二个VNA的端口处进行的测量不太可靠[55]。 表2对这些常用的自校准方法在下列指标上进行了 一个比较： 校准标准件类型 校准件的使用 从反射和传输测量所得到的误差项（ET） 从冗余信息中所得到的结果。
已经商业化了的（CSR）的共面校准标准件：（a）一对短路端，（b）一对开路端，（c）一对负载端，（d）双列内通-直通线，（e）双-回环直通线，和（f）-（g）跨线直通线。这些标准件用于最常见的圆晶片极的校准过程。
