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薄膜干涉分为两种一种叫等倾干涉，另一种称做等厚干涉。等厚干涉是由平行光入射到厚度变化均匀、折射率均匀的薄膜上、下表面而形成的干涉条纹．薄膜厚度相同的地方形成同条干涉条纹，故称等厚干涉。（牛顿环和楔形平板干涉都属等厚干涉．）
原理
1、当一个曲率半径很大的平凸透镜的凸面放在一片平玻璃上时，两者之间就形成类似劈尖的劈形空气薄层，当一束平行光ab入射到厚度不均匀的透明介质薄膜上，在薄膜的表面上会产生干涉现象。从上表面反射的光线b1和从下表面反射 并透射出上表面的光线a1在B点相遇，由于a1、b1有恒定的光程差，因而将在B点产生干涉。若平行光束ab垂直入射到薄膜面，即i = r = 0，薄膜厚度为d，则a1、b1的光程差为：δ= 2nd+λ/2，式中λ/2一项是由于光线从光疏介质到光密介质而产生的半波损失。
2、利用牛顿环测一个球面镜的曲率半径设单色平行光的波长为γ，第k级暗条纹对应的薄膜厚度为dk，考虑到下界面反射时有半波损失γ/2，当光线垂直入射时总光程差由
薄膜干涉公式求得：
R=
式中dm、dn实质上是m级与n级牛顿环的弦长。
注意事项
1．钠光灯预热。
2．调整仪器
(1)由待测透镜的凸面及平玻璃的平面组成牛顿环装置，令其处于自由状态。
(2)调整45度反射平面玻璃及显微镜的位置，使入射光近乎垂直入射，并使钠光能充满整个视场。
(3)调节目镜，看清叉丝；显微镜调焦看清干涉条纹（调整时应注意什么？）使叉丝交点大致在牛顿环的中心位置。
3．定量测量
