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作为MarSurf系列的全新款，MarSurf VD系列将粗糙度和轮廓跟踪系统进行了易转换性的提升优化，使操作更简单。
创新技术一览：
快轴：
X轴定位速度最高可达200mm/s
轮廓测量速度比其前身MarSurf PCV或MarSurf CD 120快25倍
表面测量速度比MarSurf GD 120快40倍
默认情况下，Z轴完全支持CNC
Z轴的速度约为之前Mahr Z轴的两倍，比市场上的标准Z轴快5倍
两个用于测量任务的参考探针系统
轮廓度测针系统C 11：
通过集成芯片识别探针
标准测针测量范围最高可达70mm；使用490mm测针测量范围最大可达100mm
磁性探针臂支架，无需工具即可更换探针臂
触摸探头结合了坚固性和动态性
可选：可以将粗糙度值确定扩展到轮廓
粗糙度测针系统BFW：
通过磁性探针臂支架轻松更换探针和探针臂
探头臂安装允许在没有工具或适配器的情况下从标准测量到横向测量
可以扩展探针系统
创新的工件夹紧系统：
安装板390x430mm，孔尺寸50mm
集成60mmTY调节
安装板和集成TY调整的组合使得额外的XY工作台变得多余
低部件设置支持有利的短测量回路，这对测量结果有积极影响
测量站采用用户友好的MarWin软件（MarWin EasyRoughness&Contour或MarWin专业版Roughness&Contour）进行操作。
新的测量站概念结合了速度，可靠性和灵活性。根据测量任务，操作员可以更改用于表面粗糙度测量的BFW粗糙度探头系统或用于轮廓测量的C 11轮廓探头系统（具有热插拔功能）。新系统具有将高动态C 11轮廓测量系统与高精度BFW探头系统相结合的优点，特别适用于精细表面的测量。
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